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首页 全部分类 SN74BCT8373ANT vs SN74BCT8244ANT

SN74BCT8373ANT备选型号: SN74BCT8244ANT

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  • 输出特性
  • 逻辑类型
  • 最大 I(ol)
  • Prop. Delay@Nom-Sup
  • 高电平输出电流
  • 低水平输出电流
  • 电源电流-最大值(ICC)
  • 最大频率@Nom-Sup
  • 宽度
  • RoHS状态
  • 无铅
  • 电路数量
  • 负载电容
  • 静态电流
  • 控制类型
  • 长度
  • 达到SVHC
  • 辐射硬化
  • Texas Instruments
    SN74BCT8373ANT
    Texas Instruments
    Specialty Function Logic Device w/Octal D-Type Latches
    通孔
    通孔
    24-DIP (0.300, 7.62mm)
    24
    1.753503g
    1
    0°C~70°C
    Tube
    74BCT
    e4
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    24
    Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
    DUAL
    未说明
    1
    4.5V~5.5V
    2.54mm
    未说明
    74BCT8373
    24
    不合格
    5V
    Non-Inverting
    5V
    5.5V
    4.5V
    2
    8
    29 ns
    BCT/FBT
    D-Type
    3-STATE
    Scan Test Device with D-Type Latches
    0.064 A
    9.5 ns
    -15mA
    64mA
    52mA
    20000000Hz
    7.62mm
    ROHS3 Compliant
    无铅
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
  • Texas Instruments
    SN74BCT8244ANT
    Texas Instruments
    IC, SCAN TEST DEVICE, DIP-24 - More Details
    通孔
    通孔
    24-DIP (0.300, 7.62mm)
    24
    1.753503g
    2
    0°C~70°C
    Tube
    74BCT
    e4
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    24
    Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
    DUAL
    -
    2
    4.5V~5.5V
    -
    -
    74BCT8244
    24
    -
    5V
    Non-Inverting
    -
    5.5V
    4.5V
    2
    4
    29 ns
    BCT/FBT
    Buffer
    3-STATE
    带缓冲区的扫描测试设备
    0.064 A
    -
    -15mA
    64mA
    -
    -
    -
    ROHS3 Compliant
    无铅
    8
    50pF
    35mA
    低电平
    31.64mm
    无SVHC
    无
  • 添加型号
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