NXP SEMICONDUCTORS BUK755R4-100E
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BUK755R4-100E
1786-BUK755R4-100E
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BUK755R4-100E详情
NXP SEMICONDUCTORS BUK755R4-100E重要参数规格及、参数值,及相似型号如下:
- 参数名参数值全选
- 参数名参数值全选
表面安装
NO
终端数量
3
晶体管元件材料
SILICON
Number of Elements
1
JESD-609代码
e3
ECCN 代码
EAR99
端子表面处理
TIN
附加功能
雪崩 额定
端子位置
SINGLE
终端形式
THROUGH-HOLE
峰值回流焊温度(摄氏度)
未说明
时间@峰值回流温度-最大值(s)
未说明
参考标准
AEC-Q101; IEC-60134
JESD-30代码
R-PSFM-T3
配置
SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
操作模式
增强型MOSFET
箱体转运
DRAIN
晶体管应用
SWITCHING
极性/通道类型
N-CHANNEL
JEDEC-95代码
TO-220AB
最大漏极电流 (Abs) (ID)
120A
漏极-源极导通最大电阻
0.0052Ohm
脉冲漏极电流-最大值(IDM)
631A
DS 击穿电压-最小值
100V
雪崩能量等级(Eas)
387 mJ
场效应管技术
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
RoHS状态
符合RoHS标准
BUK755R4-100E拓展信息







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