Texas Instruments SN74BCT8244ADWE4
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SN74BCT8244ADWE4
2502-SN74BCT8244ADWE4
逻辑 - 专用逻辑
SOIC
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IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
1最小包装量--
SN74BCT8244ADWE4详情
Texas Instruments SN74BCT8244ADWE4重要参数规格及、参数值,及相似型号如下:
- 参数名参数值全选
- 参数名参数值全选
包装/外壳
SOIC
底架
表面贴装
引脚数
24
质量
624.398247mg
JESD-609代码
e4
湿度敏感性等级(MSL)
1 (Unlimited)
终止次数
24
端子表面处理
Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
最高工作温度
70°C
最小工作温度
0°C
包装方式
TUBE
端子位置
DUAL
终端形式
鸥翼
峰值回流焊温度(摄氏度)
260
功能数量
2
电源电压
5V
端子间距
1.27mm
时间@峰值回流温度-最大值(s)
未说明
引脚数量
24
资历状况
不合格
工作电源电压
5.5V
极性
Non-Inverting
温度等级
COMMERCIAL
电源电压-最小值(Vsup)
4.5V
负载电容
50pF
端口的数量
2
比特数
8
传播延迟
8.5 ns
静态电流
35mA
家人
BCT/FBT
逻辑功能
Buffer
输出特性
3-STATE
逻辑IC类型
边界扫描总线驱动器
最大 I(ol)
0.064 A
控制类型
低电平
电源电流-最大值(ICC)
52mA
座位高度(最大)
2.65mm
宽度
7.5mm
长度
15.4mm
RoHS状态
符合RoHS标准
无铅
无铅
SN74BCT8244ADWE4拓展信息
Texas Instruments
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