Texas Instruments SN74BCT8373ADWRG4
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SN74BCT8373ADWRG4
2502-SN74BCT8373ADWRG4
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24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)
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IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
1最小包装量--
SN74BCT8373ADWRG4详情
Texas Instruments SN74BCT8373ADWRG4重要参数规格及、参数值,及相似型号如下:
- 参数名参数值全选
- 参数名参数值全选
底架
表面贴装
安装类型
表面贴装
包装/外壳
24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)
引脚数
24
操作温度
0°C~70°C
包装
Tape & Reel (TR)
系列
74BCT
无铅代码
yes
零件状态
Obsolete
湿度敏感性等级(MSL)
1 (Unlimited)
终止次数
24
包装方式
TAPE AND REEL
端子位置
DUAL
终端形式
鸥翼
峰值回流焊温度(摄氏度)
未说明
功能数量
1
电源电压
4.5V~5.5V
端子间距
1.27mm
时间@峰值回流温度-最大值(s)
未说明
基本部件号
74BCT8373
引脚数量
24
资历状况
不合格
工作电源电压
5.5V
电源
5V
端口的数量
2
输出电流
64mA
比特数
8
家人
BCT/FBT
逻辑功能
D-Type
输出特性
3-STATE
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Latches
输出极性
TRUE
最大 I(ol)
0.064 A
Prop. Delay@Nom-Sup
9.5 ns
传播延迟(tpd)
10 ns
电源电流-最大值(ICC)
52mA
最大频率@Nom-Sup
20000000Hz
长度
15.4mm
座位高度(最大)
2.65mm
宽度
7.5mm
RoHS状态
ROHS3 Compliant
SN74BCT8373ADWRG4拓展信息
Texas Instruments
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