注：图像仅供参考，请参阅产品规格

技术文档

PDF文档列表

Texas Instruments SN74BCT8374ANTG4

Name: SN74BCT8374ANTG4
Brand: Texas Instruments
SKU: 2502-SN74BCT8374ANTG4
Availability: InStock
Rating: 5 (1 reviews)

收藏
对比

型号

SN74BCT8374ANTG4

品牌

Texas Instruments

utmel 编号

2502-SN74BCT8374ANTG4

商品类别

逻辑 - 专用逻辑

封装

24-DIP (0.300, 7.62mm)

交货地

大陆

交期（工作日）

立即发货

ROHS

ECAD

简介

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

起订量

1最小包装量--

添加到询价列表

SN74BCT8374ANTG4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

请发送询价，我们将立即回复。

库存:

请发送询价，我们将立即回复。

* 联系人姓名

* 电话

* 邮箱

* 公司名称

* 数量

在线咨询

SN74BCT8374ANTG4详情

技术参数

PDF文档

Texas Instruments SN74BCT8374ANTG4重要参数规格及、参数值，及相似型号如下：

参数名

参数值

全选
参数名

参数值

全选
安装类型

通孔
包装/外壳

24-DIP (0.300, 7.62mm)
操作温度

0°C~70°C
包装

Tube
系列

74BCT
零件状态

Obsolete
湿度敏感性等级(MSL)

1 (Unlimited)
电源电压

4.5V~5.5V
基本部件号

74BCT8374
比特数

8
逻辑类型

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
RoHS状态

ROHS3 Compliant

0个相似型号

SN74BCT8374ANTG4拓展信息

热销零件

相关分类

热门搜索

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

Texas Instruments

索引: # 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z