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首页 全部分类 SN74BCT8240ADWR vs 74F125SJX

SN74BCT8240ADWR备选型号: 74F125SJX

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  • 宽度
  • 座位高度(最大)
  • RoHS状态
  • 引脚数
  • 电压 - 供电
  • 输出类型
  • 工作电源电压
  • 极性
  • 通道数量
  • 接通延迟时间
  • 每个元素的比特数
  • 无铅
  • Texas Instruments
    SN74BCT8240ADWR
    Texas Instruments
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
    表面贴装
    表面贴装
    24-SOIC (0.295, 7.50mm Width)
    0°C~70°C
    Tape & Reel (TR)
    74BCT
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    24
    SUPPORTS IEEE STANDARD 1149.1-1990 BOUNDARY SCAN
    TAPE AND REEL
    DUAL
    鸥翼
    未说明
    2
    4.5V~5.5V
    1.27mm
    未说明
    74BCT8240
    24
    R-PDSO-G24
    不合格
    5V
    5.5V
    4.5V
    2
    4
    7.5 ns
    BCT/FBT
    Inverting
    3-STATE
    带反相缓冲器的扫描测试设备
    INVERTED
    0.064 A
    9 ns
    -15mA
    64mA
    低电平
    52mA
    8
    15.4mm
    7.5mm
    2.65mm
    ROHS3 Compliant
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
  • ON Semiconductor
    74F125SJX
    ON Semiconductor
    IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 14SOP
    表面贴装
    表面贴装
    14-SOIC (0.209, 5.30mm Width)
    0°C~70°C TA
    Tape & Reel (TR)
    74F
    -
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    74F125
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    7.5 ns
    -
    Buffer, Inverting
    -
    Buffer, Non-Inverting
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    3
    -
    -
    -
    符合RoHS标准
    14
    4.5V~5.5V
    3-State
    5V
    Non-Inverting
    4
    9 ns
    1
    无铅
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