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首页 全部分类 SN74BCT8240ANT vs 74ACTQ543SPC

SN74BCT8240ANT备选型号: 74ACTQ543SPC

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  • 逻辑类型
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  • 低水平输出电流
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  • 输出行数
  • 宽度
  • 长度
  • RoHS状态
  • 电压 - 供电
  • 输出类型
  • 极性
  • 电路数量
  • 无铅
  • Texas Instruments
    SN74BCT8240ANT
    Texas Instruments
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
    24-DIP (0.300, 7.62mm)
    通孔
    通孔
    24
    74BCT
    Tube
    0°C~70°C
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    24
    EAR99
    SUPPORTS IEEE STANDARD 1149.1-1990 BOUNDARY SCAN
    DUAL
    未说明
    2
    4.5V~5.5V
    2.54mm
    未说明
    74BCT8240
    24
    不合格
    5V
    5.5V
    4.5V
    2
    4
    7.5 ns
    BCT/FBT
    Inverting
    3-STATE
    带反相缓冲器的扫描测试设备
    INVERTED
    0.064 A
    9 ns
    -15mA
    64mA
    低电平
    52mA
    8
    7.62mm
    31.64mm
    ROHS3 Compliant
    -
    -
    -
    -
    -
    -
  • ON Semiconductor
    74ACTQ543SPC
    ON Semiconductor
    IC REGISTERED TXRX 3ST 8B 24DIP
    24-DIP (0.300, 7.62mm)
    通孔
    通孔
    24
    74ACTQ
    Tube
    -40°C~85°C TA
    -
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    74ACTQ543
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    7.5 ns
    -
    Inverting, Transceiver
    -
    Transceiver, Non-Inverting
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    符合RoHS标准
    1
    4.5V~5.5V
    3-State
    Non-Inverting
    8
    无铅
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