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首页 全部分类 SN74BCT8240ANT vs SN64BCT757N

SN74BCT8240ANT备选型号: SN64BCT757N

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  • 引脚数量
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  • 逻辑类型
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  • 高电平输出电流
  • 低水平输出电流
  • 控制类型
  • 电源电流-最大值(ICC)
  • 输出行数
  • 宽度
  • 长度
  • RoHS状态
  • 电压 - 供电
  • 输出类型
  • 极性
  • 电源电压-最大值(Vsup)
  • 负载电容
  • 每个元素的比特数
  • 输入行数
  • Texas Instruments
    SN74BCT8240ANT
    Texas Instruments
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
    24-DIP (0.300, 7.62mm)
    通孔
    通孔
    24
    74BCT
    Tube
    0°C~70°C
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    24
    EAR99
    SUPPORTS IEEE STANDARD 1149.1-1990 BOUNDARY SCAN
    DUAL
    未说明
    2
    4.5V~5.5V
    2.54mm
    未说明
    74BCT8240
    24
    不合格
    5V
    5.5V
    4.5V
    2
    4
    7.5 ns
    BCT/FBT
    Inverting
    3-STATE
    带反相缓冲器的扫描测试设备
    INVERTED
    0.064 A
    9 ns
    -15mA
    64mA
    低电平
    52mA
    8
    7.62mm
    31.64mm
    ROHS3 Compliant
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
    -
  • Texas Instruments
    SN64BCT757N
    Texas Instruments
    IC BUFF/DVR DUAL N-INV OD 20DIP
    20-DIP (0.300, 7.62mm)
    通孔
    通孔
    20
    64BCT
    Tube
    -40°C~85°C TA
    yes
    Obsolete
    1 (Unlimited)
    20
    -
    三态控制输入，高电平有效，用于一个功能
    DUAL
    未说明
    2
    5V
    -
    未说明
    64BCT757
    20
    不合格
    5V
    -
    -
    2
    -
    9.6 ns
    BCT/FBT
    AND, Buffer, Inverting
    -
    Buffer, Non-Inverting
    -
    -
    -
    -
    -
    ENABLE LOW/HIGH
    77mA
    -
    -
    -
    ROHS3 Compliant
    2
    4.5V~5.5V
    开路集电极
    Non-Inverting
    5.5V
    50pF
    4
    8
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