SN74BCT8374ANT备选型号: SN74ABT821ANT
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- 输出行数
- 宽度
- RoHS状态
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- 无铅代码
- ECCN 代码
- 类型
- 端子表面处理
- 电压 - 供电
- 功能
- 输出类型
- 工作电源电压
- 负载电容
- 时钟频率
- 静态电流(Iq)
- 最大传播延迟@V,最大CL
- 触发器类型
- 输入电容
- 输入行数
- 座位高度(最大)
- 辐射硬化
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP通孔通孔24-DIP (0.300, 7.62mm)241.753503gPositive Edge0°C~70°CTube74BCTObsolete1 (Unlimited)24DUAL未说明14.5V~5.5V2.54mm70MHz未说明74BCT837424不合格Non-Inverting5V15.5V4.5V264mA88.5 ns11 nsBCT/FBTD-Type3-STATEScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops0.064 A-15mA64mA52mA87.62mmROHS3 Compliant无铅------------------
- IC FF D-TYPE SNGL 10BIT 24DIP通孔通孔24-DIP (0.300, 7.62mm)241.753503gPositive Edge-40°C~85°C TATube74ABTObsolete1 (Unlimited)24DUAL--5V2.54mm--74ABT821--Non-Inverting5V---264mA106.2 ns4.1 nsABTD-Type, Flip-Flop--0.064 A---37.62mmROHS3 Compliant无铅e4yesEAR99D-TypeNickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)4.5V~5.5VStandardTri-State, Non-Inverted5V50pF125MHz250μA6.2ns @ 5V, 50pFPositive Edge3.5pF105.08mm无
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| 图片 | 产品型号 | 品牌 | 分类 | 封装 | 描述 | 对比 |
|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | SN74BCT29825NT | Texas Instruments | 逻辑 - 触发器 | 24-DIP (0.300, 7.62mm) | IC FF D-TYPE SNGL 8BIT 24DIP | 对比 |
![]() | SN74ABT843NT | Texas Instruments | 逻辑 - 锁存器 | 24-DIP (0.300, 7.62mm) | LOGIC, 9BIT BUS INT D LATCH, 24DIP | 对比 |



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