Texas Instruments SN74BCT8374ANT
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SN74BCT8374ANT
2502-SN74BCT8374ANT
逻辑 - 专用逻辑
24-DIP (0.300, 7.62mm)
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IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
--最小包装量--
SN74BCT8374ANT详情
Texas Instruments SN74BCT8374ANT重要参数规格及、参数值,及相似型号如下:
- 参数名参数值全选
- 参数名参数值全选
底架
通孔
安装类型
通孔
包装/外壳
24-DIP (0.300, 7.62mm)
引脚数
24
质量
1.753503g
Clock-Edge Trigger Type
Positive Edge
操作温度
0°C~70°C
包装
Tube
系列
74BCT
零件状态
Obsolete
湿度敏感性等级(MSL)
1 (Unlimited)
终止次数
24
端子位置
DUAL
峰值回流焊温度(摄氏度)
未说明
功能数量
1
电源电压
4.5V~5.5V
端子间距
2.54mm
频率
70MHz
时间@峰值回流温度-最大值(s)
未说明
基本部件号
74BCT8374
引脚数量
24
资历状况
不合格
极性
Non-Inverting
电源
5V
电路数量
1
最大电源电压
5.5V
最小电源电压
4.5V
端口的数量
2
输出电流
64mA
比特数
8
传播延迟
8.5 ns
接通延迟时间
11 ns
家人
BCT/FBT
逻辑功能
D-Type
输出特性
3-STATE
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
最大 I(ol)
0.064 A
高电平输出电流
-15mA
低水平输出电流
64mA
电源电流-最大值(ICC)
52mA
输出行数
8
宽度
7.62mm
RoHS状态
ROHS3 Compliant
无铅
无铅
SN74BCT8374ANT拓展信息
Texas Instruments
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