ON Semiconductor FQD4N20TM

生命周期状态

ACTIVE (Last Updated: 1 week ago)

工厂交货时间

4 Weeks

底架

表面贴装

安装类型

表面贴装

包装/外壳

TO-252-3, DPak (2 Leads + Tab), SC-63

引脚数

3

质量

260.37mg

晶体管元件材料

SILICON

Current - Continuous Drain (Id) @ 25℃

3A Tc

Drive Voltage (Max Rds On, Min Rds On)

10V

Number of Elements

1

Power Dissipation (Max)

2.5W Ta 30W Tc

Turn Off Delay Time

7 ns

操作温度

-55°C~150°C TJ

包装

Tape & Reel (TR)

系列

QFET®

JESD-609代码

e3

无铅代码

yes

零件状态

活跃

湿度敏感性等级(MSL)

1 (Unlimited)

终止次数

2

ECCN 代码

EAR99

电阻

1.4Ohm

端子表面处理

Tin (Sn)

电压 - 额定直流

200V

终端形式

鸥翼

峰值回流焊温度（摄氏度）

未说明

Reach合规守则

not_compliant

额定电流

3A

时间@峰值回流温度-最大值(s)

未说明

JESD-30代码

R-PSSO-G2

资历状况

不合格

元素配置

Single

操作模式

增强型MOSFET

功率耗散

2.5W

箱体转运

DRAIN

接通延迟时间

7 ns

场效应管类型

N-Channel

晶体管应用

SWITCHING

Rds On(Max)@Id,Vgs

1.4 Ω @ 1.5A, 10V

不同 Id 时 Vgs(th)（最大值）

5V @ 250μA

输入电容(Ciss)(Max)@Vds

220pF @ 25V

门极电荷(Qg)(最大)@Vgs

6.5nC @ 10V

上升时间

50ns

Vgs（最大值）

±30V

下降时间（典型值）

25 ns

连续放电电流(ID)

3A

栅极至源极电压(Vgs)

30V

最大漏极电流 (Abs) (ID)

3A

漏源击穿电压

200V

雪崩能量等级（Eas）

52 mJ

RoHS状态

ROHS3 Compliant

无铅

无铅