NXP USA Inc. PMGD8000LN,115
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PMGD8000LN,115
1786-PMGD8000LN,115
晶体管 - FET,MOSFET - 阵列
6-TSSOP, SC-88, SOT-363
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MOSFET 2N-CH 30V 0.125A 6TSSOP
--最小包装量--
PMGD8000LN,115详情
NXP USA Inc. PMGD8000LN,115重要参数规格及、参数值,及相似型号如下:
- 参数名参数值全选
- 参数名参数值全选
安装类型
表面贴装
包装/外壳
6-TSSOP, SC-88, SOT-363
表面安装
YES
晶体管元件材料
SILICON
Current - Continuous Drain (Id) @ 25℃
125mA
Number of Elements
2
操作温度
-55°C~150°C TJ
包装
Tape & Reel (TR)
系列
TrenchMOS™
已出版
1997
JESD-609代码
e3
零件状态
Obsolete
湿度敏感性等级(MSL)
1 (Unlimited)
终止次数
6
ECCN 代码
EAR99
端子表面处理
Tin (Sn)
附加功能
逻辑电平兼容
HTS代码
8541.21.00.95
终端形式
鸥翼
峰值回流焊温度(摄氏度)
未说明
时间@峰值回流温度-最大值(s)
未说明
引脚数量
6
JESD-30代码
R-PDSO-G6
资历状况
不合格
配置
SEPARATE, 2 ELEMENTS WITH BUILT-IN DIODE
操作模式
增强型MOSFET
功率 - 最大
200mW
场效应管类型
2 N-Channel (Dual)
晶体管应用
SWITCHING
Rds On(Max)@Id,Vgs
8 Ω @ 10mA, 4V
不同 Id 时 Vgs(th)(最大值)
1.5V @ 100μA
输入电容(Ciss)(Max)@Vds
18.5pF @ 5V
门极电荷(Qg)(最大)@Vgs
0.35nC @ 4.5V
漏源电压 (Vdss)
30V
最大漏极电流 (Abs) (ID)
0.125A
漏极-源极导通最大电阻
8Ohm
DS 击穿电压-最小值
30V
场效应管技术
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
最大耗散功率(Abs)
0.2W
场效应管特性
逻辑电平门
RoHS状态
ROHS3 Compliant
PMGD8000LN,115拓展信息
NXP USA Inc.
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